Maîtrisez les systèmes de métrologie avancée (CD-SEM, OCD, overlay) et développez un système de Virtual Metrology par Machine Learning pour la ligne 18nm FD-SOI de STMicroelectronics.
Bac+5 physique, optique, microélectronique ou data science
Passion pour la mesure de précision et la physique
Intérêt pour l'IA appliquée à l'industrie
Construisez une expérience concrète et la confiance pour la suite.
La métrologie est le système nerveux d'une fab semiconducteur. Chaque wafer subit 200+ mesures entre les étapes de process pour vérifier la conformité dimensionnelle, l'alignement et les propriétés des films. Sans métrologie, la fab est aveugle.
Vous rejoignez l'équipe Metrology & Process Control de STMicroelectronics Crolles, équipée des systèmes KLA les plus avancés au monde. Votre mission : assurer le contrôle dimensionnel de la ligne 18nm FD-SOI et développer un système de Virtual Metrology (VM) utilisant le Machine Learning pour prédire les résultats de mesure à partir des données de process.
La Virtual Metrology est le Graal de la fab : réduire le nombre de mesures physiques de 50% tout en maintenant le même niveau de contrôle → gain de throughput et réduction de coûts.
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Ce que vous maîtriserez
Ce que vous devez maîtriser
Market signals
Signaux de marché vérifiés — sources publiques
KLA réalise $10 Mds de revenus. Le marché de la métrologie semiconducteur croît de 12%/an. La Virtual Metrology est le segment le plus dynamique (+25%/an).
Source · Source publique — à compléter
STMicro recrute 15+ ingénieurs métrologie/an à Crolles. KLA recrute 10+/an en France. Salaire métrologie : 42-60k€ + intéressement.
Source · Source publique — à compléter
La combinaison physique + statistiques + ML est la plus recherchée en fab. Les profils « metrologist + data scientist » sont recrutés en < 2 semaines.
Source · Source publique — à compléter
La Virtual Metrology peut réduire le sampling de 50% → gain de throughput de 12% → €50M/an de revenus additionnels pour une fab avancée.
Source · Source publique — à compléter
Découvrez comment les situations prennent vie
kla.com
Leader mondial de la métrologie et inspection semiconducteur.
st.com
Fab 300mm Crolles — métrologie avancée.
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La métrologie est le système nerveux d'une fab semiconducteur. Chaque wafer subit 200+ mesures entre les étapes de process pour vérifier la conformité dimensionnelle, l'alignement et les propriétés des films. Sans métrologie, la fab est aveugle.
Vous rejoignez l'équipe Metrology & Process Control de STMicroelectronics Crolles, équipée des systèmes KLA les plus avancés au monde. Votre mission : assurer le contrôle dimensionnel de la ligne 18nm FD-SOI et développer un système de Virtual Metrology (VM) utilisant le Machine Learning pour prédire les résultats de mesure à partir des données de process.
La Virtual Metrology est le Graal de la fab : réduire le nombre de mesures physiques de 50% tout en maintenant le même niveau de contrôle → gain de throughput et réduction de coûts.
Témoignages de professionnels qui ont vécu des missions équivalentes
“La métrologie représente 25% du temps de cycle d'un wafer en fab. Si nous pouvons réduire le sampling de 50% grâce à la Virtual Metrology sans perdre en contrôle, nous gagnons 12% de throughput — soit €50M de revenus additionnels par an.…”
Dr. Antoine Danel
Metrology Manager
STMicroelectronics
“La scatterométrie OCD mesure des structures de 18nm en analysant la diffraction de la lumière. C'est de la physique inverse : on modélise la structure, on simule le spectre de diffraction, et on fit le spectre mesuré. La précision atteint 0,3nm —…”
Dr. Sandrine Leroy
OCD Lead
STMicroelectronics
“La Virtual Metrology est l'avenir de la fab. Chez KLA, nous travaillons avec les top fabs du monde (TSMC, Samsung, Intel) pour développer des modèles ML qui prédisent les résultats de métrologie à partir des données FDC (Fault Detection & Classification). Le…”
Dr. Ahmad Khan
VP Process Control
KLA Corporation
“Le modèle VM que j'ai développé à Crolles prédit le CD des transistors 18nm avec une précision de ±0,4nm — comparable au CD-SEM. Nous avons réduit le sampling physique de 40% sur 3 étapes de process. C'est le début d'une révolution :…”
Dr. Nadia Lazar
Virtual Metrology Lead
STMicroelectronics
Témoignages de professionnels qui ont vécu des missions équivalentes
“La métrologie représente 25% du temps de cycle d'un wafer en fab. Si nous pouvons réduire le sampling de 50% grâce à la Virtual Metrology sans perdre en contrôle, nous gagnons 12% de throughput — soit €50M de revenus additionnels par an.…”
Dr. Antoine Danel
Metrology Manager
STMicroelectronics
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