Ingénieur Yield & Défautivité, Fab 300 mm FD-SOI
    Simulation de métier
    CareerOn Studio

    Ingénieur Yield & Défautivité, Fab 300 mm FD-SOI

    Huit missions au cœur du ramp de la nouvelle fab conjointe STMicroelectronics × GlobalFoundries à Crolles : traquer les défauts à 0,12 par cm², tenir la métrologie, gérer une excursion de particules un vendredi soir et défendre la courbe de rendement devant le comité de pilotage.

    13 heures
    Avancé
    i
    Semi-conducteurs
    Ouverte

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    Attiré(e) par l'invisible à hauteur d'euros : vous voulez qu'une carte de défauts devienne une décision de production, pas un poster de salle blanche.

    Lecteur de signatures : une couronne de bord à 0,34 défaut/cm² vous raconte la santé réelle d'un ramp.

    Calme en excursion : une alarme particules un vendredi soir vous structure — journal horodaté, seuils écrits, lots en attente.

    Arbitre chiffré : vos recommandations tiennent en dies perdus, en €/plaquette et en exigences AEC-Q100 — pas en impressions de salle blanche.

    Pourquoi cette simulation compte

    Construisez une expérience concrète et la confiance pour la suite.

    Description

    Crolles, Isère. Cinquante ans après le plan Calcul, la France y construit la plus grande fab 300 mm de son histoire : une coentreprise STMicroelectronics × GlobalFoundries de 7,5 milliards d'euros, soutenue par 2,9 milliards d'aide d'État autorisée par Bruxelles, pour produire des puces FD-SOI jusqu'au nœud 18 nm : les technologies de l'automobile, de l'industrie et de l'IoT sécurisé. Mais une fab ne vaut que par son rendement : chaque défaut par centimètre carré détruit des dies, des euros et des délais clients. Entre la première plaquette et la capacité cible de 620 000 plaquettes par an, il y a un métier précis : l'ingénieur yield, celui qui lit les cartes de défauts, arbitre les lots en attente et fait monter la courbe de rendement semaine après semaine. Dans cette simulation, vous rejoignez l'équipe yield & défautivité au moment où le ramp passe son premier jalon de qualification automobile.

    Comment ça se passe

    Quelques étapes pour commencer

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    Faire le travail

    Traitez chaque mission comme le métier se pratique vraiment.

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    Voyez ce que votre travail a montré, cité depuis ce que vous avez écrit.

    Garder la preuve

    Emportez la preuve dans vos candidatures et vos entretiens.

    Compétences Développées

    Ce que vous maîtriserez

    Lecture de cartes de défauts (wafer maps, bin maps) et signatures spatiales : couronne de bord, scratch, cluster
    Métrologie de fabrication : CD-SEM, overlay, inspection de défauts bright-field KLA, e-test / WAT
    Contrôle avancé des procédés : FDC, APC run-to-run, cartes SPC, gestion des excursions
    Analyse de cause racine en salle blanche : Ishikawa, 5 Pourquoi, corrélation défaut / équipement / recette
    Économie du rendement : coût par bon die, courbe d'apprentissage, sensibilité D0 × surface de die

    Prérequis

    Ce que vous devez maîtriser

    Bases de physique des semi-conducteurs et de fabrication de plaquettes (FEOL/BEOL, lithographie, gravure, dépôt, CMP)
    Notions de statistiques industrielles : cartes de contrôle, capabilité, distributions
    Lecture de données de production et raisonnement chiffré sous contrainte

    La simulation en action

    Découvrez comment les situations prennent vie

    FILE

    ST et GlobalFoundries finalisent l'accord pour la fab 300 mm de Crolles (5 juin 2023)

    newsroom.st.com

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    Signature du contrat d'aide de l'État de 2,9 Md€ à la fab ST × GF (5 juin 2023)

    presse.economie.gouv.fr

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    Ce que l'aide publique finance à Crolles (franceinfo, juin 2023)

    franceinfo.fr

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    La BEI et ST annoncent un accord de 1 Md€ (décembre 2025)

    newsroom.st.com

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    Les missions du programme

    Ouvrez une mission pour voir ce que vous allez produire

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    Aperçu du programme

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    Task 1

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    Ligne d’arrivée

    Aperçu du programme

    Crolles, Isère. Cinquante ans après le plan Calcul, la France y construit la plus grande fab 300 mm de son histoire : une coentreprise STMicroelectronics × GlobalFoundries de 7,5 milliards d'euros, soutenue par 2,9 milliards d'aide d'État autorisée par Bruxelles, pour produire des puces FD-SOI jusqu'au nœud 18 nm — les technologies de l'automobile, de l'industrie et de l'IoT sécurisé. Mais une fab ne vaut que par son rendement : chaque défaut par centimètre carré détruit des dies, des euros et des délais clients. Entre la première plaquette et la capacité cible de 620 000 plaquettes par an, il y a un métier précis : l'ingénieur yield, celui qui lit les cartes de défauts, arbitre les lots en attente et fait monter la courbe de rendement semaine après semaine. Dans cette simulation, vous rejoignez l'équipe yield & défautivité au moment où le ramp passe son premier jalon de qualification automobile.

    Ce que vous allez vivre

    • Diagnostiquer
    • Décider
    • Exécuter
    • Convaincre

    Prérequis

    • Bases de physique des semi-conducteurs et de fabrication de plaquettes (FEOL/BEOL, lithographie, gravure, dépôt, CMP)
    • Notions de statistiques industrielles : cartes de contrôle, capabilité, distributions
    • Lecture de données de production et raisonnement chiffré sous contrainte

    Ce que disent les pairs

    Témoignages de professionnels qui ont vécu des missions équivalentes

    4.8 •6 voix d’experts
    Story
    “Diagnostiquer un edge-ring de défauts, remonter au seasoning de chambre, puis arbitrer une boucle APC sur scanners ASML : la logique de ramp-up qu'on m'a demandée mot pour mot en entretien à Crolles.”
    Élise P.

    Élise P.

    Ingénieure intégration junior — 300 mm

    Promotion 2025, Grenoble INP Phelma

    Story
    “Comprendre ce que AEC-Q100 exige vraiment sur la traçabilité m'a fait changer de posture : en fab automobile, chaque dérive a un coût qualité mesurable et un propriétaire nommé.”
    Yanis T.

    Yanis T.

    Technicien de production — reconversion semi-conducteurs

    Ex-pharma, 6 ans d'expérience

    Story
    “Cette simulation reflète exactement mon quotidien : DOE, 8D, coordination inter-modules. J'aurais aimé avoir ça avant mon premier entretien.”

    Léa M.

    Process Integration Engineer

    STMicroelectronics Crolles

    Story
    “Le niveau de détail process est rare. Les cas d'excursion de yield sont calqués sur des situations réelles que j'ai vécues sur le 22FDX.”

    Karim B.

    Yield Engineer

    GlobalFoundries Dresde

    Story
    “Parfait pour combler le gap entre la théorie en thèse et la réalité industrielle. Les data tables sont alignées avec les specs IRDS 2025.”

    Aïcha R.

    Doctorante FD-SOI

    CEA-Leti

    Story
    “Très bien sur l'intégration. J'aurais aimé plus de profondeur sur les overlay budgets et le multi-patterning, mais c'est un excellent point de départ.”

    Mathieu D.

    Lithography Module Owner

    STMicroelectronics

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    Faites le travail, gardez la preuve.